Virksomheten startet som en metalletsefabrikk, grunnlagt av Wilhelm Heidenhain i Berlin i 1889, som fremstilte sjablonger, skilt, graderinger og skalaer. Etter at virksomheten ble ødelagt under den andre verdenskrig, grunnla Wilhelm Heidenhains sønn firmaet DR. JOHANNES HEIDENHAIN i Traunreut. De første produktene var som før graderinger samt prisskalaer for vekter. Snart ble optiske posisjonsmåleapparater for verktøymaskiner lagt til i utvalget. På begynnelsen av sekstitallet kom overgangen til lengde- og vinkelmålingsapparater med fotoelektrisk skanning. Denne utviklingen gjorde det for første gang mulig å automatisere maskiner og anlegg i produksjonsindustrien. Fra midten av 70-årene utviklet HEIDENHAIN seg også til å bli en stadig viktigere produsent av styrings- og driftsteknikk for verktøymaskiner. Virksomheten har fra begynnelsen av vært sterkt teknisk orientert. For å sikre denne tekniske orienteringen samt virksomhetens uavhengige eksistens som grunnlag for en stødig videreutvikling, satte Dr. Johannes Heidenhain i 1970 sine aksjer inn i en veldedig stiftelse. Dette gjør det i dag mulig for HEIDENHAIN å gjøre høye investeringer i forskning og utvikling.
1889
Etablering av metalletsefabrikken W. HEIDENHAIN i Berlin
1923
Dr. Johannes Heidenhain trer inn i sin fars bedrift
1948
Nyetablering av firmaet DR. JOHANNES HEIDENHAIN i Traunreut
1950
DIADUR-prosessen blir oppfunnet: Produksjon av robuste presisjonsgraderinger på glass ved å kopiere en originalgradering
1970
Den veldedige stiftelsen DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG GmbH blir grunnlagt
1980
Dr. Johannes Heidenhain dør
2014
HEIDENHAIN er representert over hele verdien i alle de industrialiserte landene
Vinkelmåleapparater for Daniel K. Inouye Solar-teleskopet (DKIST, tidligere Advanced Technology Solar Telescope, ATST)
1936
Fotomekanisk kopiert glassmålestokk med nøyaktighet ± 0,015 mm
1943
Kopiert delkrets med nøyaktighet ± 3 sekunder
1952
Vektskåler utgjør hovedomsetningen
1967
Frittbærende gitter, mikrostrukturer
1985
Avstandskoderte referansemerker for inkrementelle målestokker
1986
Målestokker for fasegitter
1995
Flate kryssgitter for 2-koordinats-måleapparater
2002
Plane fasegitterstrukturer for interferensielle lengdemåleapparater
2005
Forurensningsimmune amplitudegitter fremstilt ved hjelp av laserfjerning.
2009
Vidstrakt kryssgitter (400 mm x 400 mm) for målesystemer i halvlederindustrien
Optiske lengdemåleapparater for verktøymaskiner
1961
Inkrementelt lengdemåleapparat LID 1, graderingsperiode 8 µm / måletrinn 2 µm
1963
Kode-lengdemåleapparat LIC med 18 spor, dual-kode / måletrinn 5 µm
1965
Laser-interferometer til måling av verktøymaskiner
1987
Interferensielt åpent lengdemåleapparat LS 101, måletrinn 0,02 µm
1989
Interferensielt åpent lengdemåleapparat LS 301, måletrinn 1 nm
1992
Todimensjonalt interferensielt lengdemåleapparat PP 109R
2008
Interferensielt lengdemåleapparat LIP 200 med signalperiode 0,512 µm for prosesshastighet opptil 3 m/s
2010
Absolutt åpent lengdemåleapparat LIC 4000 med 2 spor,PRC, EnDat 2.2 for målelengder opptil 27 m og oppløsning 1 nm
2012
Absolutt lengdemåleapparat med ett spor LIC 2100
1966
Kapslet inkrementelt lengdemåleapparat LIDA 55.6 med stålmålestokk
1975
Inkrementelt lengdemåleapparat LS 500 med glassmålestokk, målelengde opptil 3 m, måletrinn 10 µm
1977
Inkrementelt lengdemåleapparat LIDA 300, målelengde opptil 30 m
1994
Absolutt lengdemåleapparat LC 181 med 7 spor, EnDat-grensesnitt, målelengde opptil 3 m, måletrinn 0,1 µm
1996
Absolutt lengdemåleapparat LC 481 med 2 spor, PRC, EnDat, målelengde opptil 2 m
2011
Absolutt lengdemåleapparat LC 200, målelengde opptil 28 m, PRC, måletrinn 10 nm
Absolutt lengdemåleapparat LC xx5, målelengde opptil 4 m, måletrinn 1 nm
Optiske vinkelmåleapparater
1957/1961
Fotoelektrisk vinkelmåleapparat ROD 1 med 40 000 signalperioder/U, 10 000 streker
1962
ROD 1 med 72 000 signalperioder/U
1964
Absolutt vinkelmåleapparat ROC 15 / oppløsning 17 bit
Inkrementelt vinkelmåleapparat ROD 800, nøyaktighet ± 1 sekund
Inkrementelt vinkelmåleapparat RON 905, nøyaktighet ± 0,2 sekunder
1997
Absolutt vinkelmåleapparat med intergrert statorkobling i hulakselutførelse RCN 723, 23 bit singleturn, EnDat-grensesnitt, nøyaktighet ± 2 sekunder
2000
Inferensielt vinkelmåleapparat ERP 880 med 180 000 signalperioder/U, nøyaktighet ± 0,2 sekunder
2004
Absolutt vinkelmåleapparat RCN 727 med hulakseldiameter opptil 100 mm
Interferensielt vinkelmåleapparat ROP 8080, for waferprober, kombinasjon lastelager og vinkelmåleapparat, 360 000 signalperioder/U
Miniatyrisert inferesiellt vinkelmåleapparat ERP 1080 i single-chip-encoder-utførelse
Inkrementell fotoelektrisk roteringskoder ROD 1 med 10 000 streker
1981
Inkrementell roteringskoder ROD 426, industristandarden
Absolutt multiturn-roteringskoder ROC 221 S, 12 bit singleturn, 9 bit multiturn
Inkrementell installasjons-roteringskoder ERN 1300 for arbeidstemperaturer opptil 120 °C
1993
Absolutt singleturn og multiturn roteringskoder ECN 1300 og EQN 1300
Miniatyrisert absolutt multiturn roteringskoder EQN 1100 i chip-on-board-teknikk
Absolutt singleturn-roteringskoder ECN 100 med hulakseldiameter opptil 50 mm
Miniatyrisert absolutt singleturn og multiturn roteringskoder ECI 1100 og EQI 1100 (med induktiv probing)
2007
Absolutt roteringskoder med "Functional Safety" SIL2/PL d og EnDat 2.2-grensesnitt
Dette nettstedet bruker informasjonskapsler. Vennligst godta bruk av informasjonskapsler for å sikre riktig sidevisning, og forbedre brukeropplevelsen.
Se vår Personvernpolicy