Menü überspringen

Firmaets historie og milepæler i produktutviklingen

Virksomheten startet som en metalletsefabrikk, grunnlagt av Wilhelm Heidenhain i Berlin i 1889, som fremstilte sjablonger, skilt, graderinger og skalaer. Etter at virksomheten ble ødelagt under den andre verdenskrig, grunnla Wilhelm Heidenhains sønn firmaet DR. JOHANNES HEIDENHAIN i Traunreut. De første produktene var som før graderinger samt prisskalaer for vekter. Snart ble optiske posisjonsmåleapparater for verktøymaskiner lagt til i utvalget. På begynnelsen av sekstitallet kom overgangen til lengde- og vinkelmålingsapparater med fotoelektrisk skanning. Denne utviklingen gjorde det for første gang mulig å automatisere maskiner og anlegg i produksjonsindustrien.

Fra midten av 70-årene utviklet HEIDENHAIN seg også til å bli en stadig viktigere produsent av styrings- og driftsteknikk for verktøymaskiner.

Virksomheten har fra begynnelsen av vært sterkt teknisk orientert. For å sikre denne tekniske orienteringen samt virksomhetens uavhengige eksistens som grunnlag for en stødig videreutvikling, satte Dr. Johannes Heidenhain i 1970 sine aksjer inn i en veldedig stiftelse. Dette gjør det i dag mulig for HEIDENHAIN å gjøre høye investeringer i forskning og utvikling.

Historiske milepæler

1889

Etablering av metalletsefabrikken W. HEIDENHAIN i Berlin

1923

Dr. Johannes Heidenhain trer inn i sin fars bedrift

1948

Nyetablering av firmaet DR. JOHANNES HEIDENHAIN i Traunreut

1950

DIADUR-prosessen blir oppfunnet: Produksjon av robuste presisjonsgraderinger på glass ved å kopiere en originalgradering

1970

Den veldedige stiftelsen DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG GmbH blir grunnlagt

1980

Dr. Johannes Heidenhain dør

2014

HEIDENHAIN er representert over hele verdien i alle de industrialiserte landene

Måletekniske prosjekter

1961

Fotoelektrisk målemikroskop

1966

Interferens-komparator for Fysisk-Teknisk Forbundsinstitutt PTB

1971

Vinkelmålebord og delkrets-kontrollapparat for PTB

1977

Presisjonsvinkelmåler for PTB

1989

Vinkelmåleapparater for New Technology Telescope NTT

1999

Vinkelmåleapparater for Very Large Telescope VLT

1999

Målestokker for den internasjonale NANO-3-sammenligningen av lengdemålinger
mellom en rekke nasjonale metrologi-institutter

2001

Nanometer-interferenskomparator for PTB

2003

Vinkelmåler-sammenligning mellom HEIDENHAIN, PTB og AIST (japansk nasjonalt forskningsinstitutt)

2004

Sammenligning av lengdemåling mellom HEIDENHAIN, PTB og MITUTOYO

2004

Vinkelmåleapparater for GRANTECAN-teleskopet (Gran Telescopio CANARIAS)

2005

Sammenligning av vinkelmåling mellom HEIDENHAIN og PTB

2007

Vinkelmåleapparater for de 25 europeiske ALMA-antennene (Atacama Large Telescope Array)

2013

Vinkelmåleapparater for Daniel K. Inouye Solar-teleskopet (DKIST, tidligere Advanced Technology Solar Telescope, ATST)

Milepæler for graderingene

1936

Fotomekanisk kopiert glassmålestokk med nøyaktighet ± 0,015 mm

1943

Kopiert delkrets med nøyaktighet ± 3 sekunder

1952

Vektskåler utgjør hovedomsetningen

1967

Frittbærende gitter, mikrostrukturer

1985

Avstandskoderte referansemerker for inkrementelle målestokker

1986

Målestokker for fasegitter

1995

Flate kryssgitter for 2-koordinats-måleapparater

2002

Plane fasegitterstrukturer for interferensielle lengdemåleapparater

2005

Forurensningsimmune amplitudegitter fremstilt ved hjelp av laserfjerning.

2009

Vidstrakt kryssgitter (400 mm x 400 mm) for målesystemer i halvlederindustrien

Måleapparatenes milepæler: åpne lengdemåleapparater

1952

Optiske lengdemåleapparater for verktøymaskiner

1961

Inkrementelt lengdemåleapparat LID 1, graderingsperiode 8 µm / måletrinn 2 µm

1963

Kode-lengdemåleapparat LIC med 18 spor, dual-kode / måletrinn 5 µm

1965

Laser-interferometer til måling av verktøymaskiner

1987

Interferensielt åpent lengdemåleapparat LS 101, måletrinn 0,02 µm

1989

Interferensielt åpent lengdemåleapparat LS 301, måletrinn 1 nm

1992

Todimensjonalt interferensielt lengdemåleapparat PP 109R

2008

Interferensielt lengdemåleapparat LIP 200 med signalperiode 0,512 µm for prosesshastighet opptil 3 m/s

2010

Absolutt åpent lengdemåleapparat LIC 4000 med 2 spor,
PRC, EnDat 2.2 for målelengder opptil 27 m og oppløsning 1 nm

2012

Absolutt lengdemåleapparat med ett spor LIC 2100

2015

Interferensielt lengdemåleapparat LIP 6000 med veldig kompakt konstruksjon

Måleapparatenes milepæler: kapslede lengdemåleapparater

1952

Optiske lengdemåleapparater for verktøymaskiner

1966

Kapslet inkrementelt lengdemåleapparat LIDA 55.6 med stålmålestokk

1975

Inkrementelt lengdemåleapparat LS 500 med glassmålestokk, målelengde opptil 3 m, måletrinn 10 µm

1977

Inkrementelt lengdemåleapparat LIDA 300, målelengde opptil 30 m

1994

Absolutt lengdemåleapparat LC 181 med 7 spor, EnDat-grensesnitt, målelengde opptil 3 m, måletrinn 0,1 µm

1996

Absolutt lengdemåleapparat LC 481 med 2 spor, PRC, EnDat, målelengde opptil 2 m

2011

Absolutt lengdemåleapparat LC 200, målelengde opptil 28 m, PRC, måletrinn 10 nm

2014

Absolutt lengdemåleapparat LC xx5, målelengde opptil 4 m, måletrinn 1 nm

2015

Absolutt lengdemåleapparat LP 100, målelengde opptil 3 m, måletrinn 32,5 pm

Måleapparatenes milepæler: vinkelmåleapparater

1952

Optiske vinkelmåleapparater

1957/1961

Fotoelektrisk vinkelmåleapparat ROD 1 med 40 000 signalperioder/U, 10 000 streker

1962

ROD 1 med 72 000 signalperioder/U

1964

Absolutt vinkelmåleapparat ROC 15 / oppløsning 17 bit

1975

Inkrementelt vinkelmåleapparat ROD 800, nøyaktighet ± 1 sekund

1986

Inkrementelt vinkelmåleapparat RON 905, nøyaktighet ± 0,2 sekunder

1997

Absolutt vinkelmåleapparat med intergrert statorkobling i hulakselutførelse RCN 723, 23 bit singleturn, EnDat-grensesnitt, nøyaktighet ± 2 sekunder

2000

Inferensielt vinkelmåleapparat ERP 880 med 180 000 signalperioder/U, nøyaktighet ± 0,2 sekunder

2004

Absolutt vinkelmåleapparat RCN 727 med hulakseldiameter opptil 100 mm

2009

Interferensielt vinkelmåleapparat ROP 8080, for waferprober, kombinasjon lastelager og vinkelmåleapparat, 360 000 signalperioder/U

2011

Miniatyrisert inferesiellt vinkelmåleapparat ERP 1080 i single-chip-encoder-utførelse

Måleapparatenes milepæler: roteringskoder

1957/1961

Inkrementell fotoelektrisk roteringskoder ROD 1 med 10 000 streker

1964

Inkrementell standard-roteringskoder av produksjonsseriene ROD 2 / ROD 4

1981

Inkrementell roteringskoder ROD 426, industristandarden

1987

Absolutt multiturn-roteringskoder ROC 221 S, 12 bit singleturn, 9 bit multiturn

1992

Inkrementell installasjons-roteringskoder ERN 1300 for arbeidstemperaturer opptil 120 °C

1993

Absolutt singleturn og multiturn roteringskoder ECN 1300 og EQN 1300

2000

Miniatyrisert absolutt multiturn roteringskoder EQN 1100 i chip-on-board-teknikk

2000

Absolutt singleturn-roteringskoder ECN 100 med hulakseldiameter opptil 50 mm

2004

Miniatyrisert absolutt singleturn og multiturn roteringskoder ECI 1100 og EQI 1100 (med induktiv probing)

2007

Absolutt roteringskoder med "Functional Safety" SIL2/PL d og EnDat 2.2-grensesnitt

2012

ERN 1387 Inkrementell probing med forbedret nøyaktighet ved hjelp av nyutviklet touch-probe-ASIC

2014

Absolutt roteringskoder for anvendelser opptil SIL3/PL e, EnDat 2.2-grensesnitt og utelukkelse av feil

Milepæler i området for styringer, elektronikk

1968

Frem-/bakoverteller VRZ 59.4 for 1 akse

1974

Numerisk posisjonsindikaor HEIDENHAIN 5041

1976

Numeriske posisjonsstyringer TNC 110 und TNC 120 for 3 akser

1979

Numeriske distansestyringer TNC 131 / TNC 135

1981

Numerisk banestyring for 3 akser TNC 145

1984

Numerisk banestyring for 4 akser TNC 155, grafisk simulasjon av emnebearbeidingen

1995

Synkron-seriellt grensesnitt EnDat for absolutte posisjonsmåleapparater

1996

Banestyring TNC 426 med digital driftsregulering for 5 akser

1996

HEIDENHAIN fellespakke TNC 410 MA med konverter og motorer

2004

Banestyring iTNC 530 med alternativ driftsmodus smarT.NC

2007

Banestyring TNC 620 med HSCI, den serielle controller-interface

2011

Banestyring TNC 640 for kombinert frese-dreie-bearbeiding